Thermographie synchrone
(LIT – Lock-in thermography)
La thermographie synchrone (LIT) est une technique de localisation non destructive et sans contact de court-circuit et de fuite de courant pour composant, carte et équipement électronique. L’utilisation d’une détection synchrone permet l’amélioration de la sensibilité par rapport à un système de thermographie statique. La camera infrarouge est synchronisée à la même fréquence que le signal d’activation du défaut. Il en résulte une image d’amplitude et de phase révélant la position et la nature du défaut.
AVANTAGES DE LA THERMOGRAPHIE SYNCHRONE (LIT)
Cette technique peut être utilisée sur tout type d’échantillon allant du circuit intégré au composant 3D tout en passant par le circuit imprimé. Elle permet la localisation de divers types de défaut :
Court-circuit
·
Fuites de courant
·
Défauts ESD
·
Dommages sur oxyde de grille
·
Des transistors défectueux
Localisation rapide
de court-circuit
Localisation rapide de court-circuit de moyenne et forte résistance sur PCB et composant passif
Mesure de la
température
Mesure de la Température sur une pièce en fonctionnement
Informations sur la propagation
de la chaleur
Informations sur la propagation de la chaleur sur tout type d’échantillon
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