Certaines techniques d’analyse de défaillance et de test de composants électroniques nécessitent une préparation d’échantillons de haute précision. Intraspec maîtrise l’outil de micro-fraisage/polissage Allied X-Prep®. Cet outil nous permet d’effectuer un amincissement à partir du package ou de la puce nue. Les capacités d’amincissement 3D de cet outil garantissent un résultat uniforme et homogène ainsi qu’un contrôle de l’épaisseur finale (en particulier pour les substrats bombés). Il est couplé à l’outil X-Prep® Vision ™ permettant la mesure d’épaisseur de silicium ou d’autres substrats semi-transparents (précision 0,1 µm)
Amincissement face arrière
de puce
Préparation d’échantillons pour techniques d’émission de lumière et d’évaluation du durcissement aux radiations
Fraisage
sur carte
Décapsulation et amincissement de composants montés sur carte
Mesure des
épaisseurs restantes
Cartographie et représentation 3D de la surface du composant aminci